НОВОСТИ
03/05/2012
ОАО "Гиредмет" приняло участие в выставке «Высокие технологии XXI века», которая прошла в период с 17 по 19 апреля в ЦВК «Экспоцентр» в павильоне 7 залы 3, 4, 5 в рамках крупномасштабного выставочного проекта Неделя «Россия инновационная».
26/04/2012
С февраля по апрель 2012 года ГК «Росатом» совместно с Корпоративной академией проводил новый уникальный проект Турнир молодых профессионалов атомной отрасли ТеМП 2012.
Оборудование
| Спектрометр с разрешением по длине волны ARL Optim’X (Applied Research Laboratories, Швейцария) Экспрессный анализ веществ и материалов в диапазоне от 0,05 до 100 % масс. |
 |
| Масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой (Varian, Австралия) Определение элементного и изотопного состава веществ и материалов. Пределы определения 10-5-1 % масс. |
 |
| Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой (Thermo Electron Corp., США) Cпектрометр снабжен полупроводниковым CID детектором, который обеспечивает одновременное измерение всех аналитических линий, включенных в метод, и учет фона рядом с линиями. |
 |
| Атомно-эмиссионный спектрометр с дугой постоянного тока и фотоэлектрической регистрацией Спектрограф оборудован Многоканальным Анализатором Эмиссионных Спектров (МАЭС). Для возбуждения спектров используется универсальный генератор “Шаровая молния 25” совместно со специальным штативом “Глобула”. |
 |
| Фотоэлектронный и Ожэ-спектрометр Эсхалаб МК-II (VG, Англия) Определение состава и химического состояния элементов в поверхностных слоях с разрешением по глубине 0.5-2.0 нм и по поверхности 0.5 мкм. |
 |
| Просвечивающий электронный микроскоп 200CX (JEOL, Япония) Исследование структуры тонких фольг полупроводниковых материалов; ускоряющее напряжение 200кВ, разрешение по точкам 0,55 нм. |
 |
| Сканирующий интерференционный микроскоп ZYGO NewView 6200 (Zygo, США) Микроскоп NewView 6200 — это универсальный (многоцелевой) бесконтактный неразрушающий анализатор микрорельефа отражающих поверхностей различных материалов: металлов, полупроводников, диэлектриков и др. На основе интерференции отраженных от исследуемой поверхности и опорных белых световых лучей, микроскоп формирует трехмерное графическое изображение микроструктуры и топографии поверхности и проводит их цифровой анализ на базе программного обеспечения MetroPro. |
 |
| Многофункциональный исследовательский микроскоп Olympus BX 51M (Olympus, Япония) Многофункциональный микроскоп Olympus BX51M является исследовательским микроскопом нового поколения. Он имеет оптическую систему, скорректированную на бесконечность, модульное строение, устойчивую Y-образную раму, мощный осветитель для проходящего света 100Вт, что позволяет получать яркие, высококонтрастные изображения. Микроскоп Olympus BX51 использует следующие методы обзора: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, поляризованный свет, флуоресценция, ДИК Номарского. Микроскоп Olympus BX51M идеально подходит для установки в центрах коллективного пользования, научно-исследовательских и диагностических лабораториях. |
 |
| Исследовательский стереомикроскоп Olympus SZX16 (Olympus, Япония) Исследовательский микроскоп Olympus SZX16 позволяет использовать следующие методы контрастирования: светлое поле, косое освещение, поляризация, люминесценция. |
 |
| Многофункциональный исследовательский микроскоп Рolyvar-met (Riechert-Jung, Австрия) Микроскоп Рolyvar-met позволяет использовать следующие методы обзора: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, поляризованный свет, дифференциальный интерференционный контраст Номарского (ДИК). Микроскоп прямого наблюдения может работать как в проходящем, так и в отраженном свете. |
 |
| Масс-спектрометр искровой JMS 01B2 (JEOL, Япония) Предназначен для искрового масс-спектрального элементного и изотопного анализа твердых высокочистых веществ и материалов, порошков металлов, оксидов, руд и концентратов. Стандартный и модернизированный ионнный источник. Разрешение 7000, геометрия по системе Маттауха-Герцога. Ускоряющее напряжение до 30 кВ, система сканирования поверхности образца, фоторегистрация масс-спектра. |
 |
| Двухлучевой атомно-абсорбционный спектрофотометр GBC Sens Dual (GBS, Австралия) Экспрессное определение цветных, редких и драгоценных металлов в сырье, полупродуктах, соединениях и сплавах. |
 |
| Атомно-абсорбционный спектрофотометр Z 3030 (Perkin Elmer, США) Предназначен для определения микропримесей в растворах редких, цветных и драгоценных металлов и их соединений. Диапазон определения 10-6-0,01 % масс. Коррекция фона по Зееману; мощность 2кВт; автоматический пробоотборник; электротермическая атомизация; источник монохроматического излучения- лампа полого катода. |
 |
| Анализатор влажности (Kern & Sohn, Германия ) Анализатор влажности MRS 120-3 предназначен для экспрессного и точного определения влажности материала в жидких, пористых и твёрдых веществах на основании термогравиметрического анализа. |
 |
| Ультразвуковая ванна для очистки (Retsch®, Германия) Ультразвуковая ванна RETSCH мягко и интенсивно чистит контрольные сита, микропрецизионные сита, стеклянные и металлические детали, а также металлургические и геологические образцы, очки, ювелирные изделия или монеты. В дополнение к очистке, ультразвуковые ванны очистки можно использовать для других рабочих процессов. |
 |
| Планетарная шаровая мельница PM 100 (Retsch®, Германия) Планетарная шаровая мельница RETSCH предназначена для измельчения и перемешивания мягких, от средне-твердых до очень твердых, хрупких и волокнистых материалов. Минералы, руды, сплавы металлов, химикаты, стекло, керамику, части растений, почвы, осадки сточных вод, промышленные и бытовые отходы и много других материалов можно измельчать быстро и без потерь. Планетарные шаровые мельницы используются практически во всех отраслях промышленности, где предъявляются высокие требования к чистоте помола, скорости, конечной тонкости и воспроизводимости результатов. |
 |
| Лабораторный гидравлический пресс CARVER (CARVER®, U.S.A.) Лабораторный гидравлический пресс применяется для изготовления таблетированных образцов в специальных пресс-формах при подготовке пробы к физико-химическим исследованиям. В частности при проведении элементного анализа вещества рентгеноспектральным флуоресцентным методом или методом ИК-Фурье спектроскопии. Разработан специально для оснащения производственных аналитических и исследовательских лабораторий. |
 |
| Конвекционный сушильный шкаф (Thermo SCIENTIFIC, U.S.A.) Сушильные шкафы предназначены для сушки, подогрева, прокаливания, испарения, стерилизации и различных испытаний материалов в лабораторных и промышленных условиях. Является идеальным оборудованием для сушки посуды, сушки и / или нагрева невоспламеняющихся кристаллических химических веществ, предварительного нагрева тиглей или других контейнеров и сушки бумажных фильтров. |
 |
| Вибрационная дисковая мельница RS 200 (Retsch®, Германия) Вибрационная дисковая мельница RETSCH предназначена для быстрого измельчения без потерь твердых, хрупких и волокнистых материалов, подходит для подготовки проб к спектральным анализам. Надежная конструкция мельницы позволяет использовать ее в секторе строительных материалов (цемент), в геологии, минералогии, металлургии и на электростанциях. Она особенно подходит для измельчения различных материалов. |
 |
| Аналитическая просеивающая машина AS 200 control (Retsch®, Германия) Аналитические просеивающие машины RETSCH используются в таких областях как исследования и разработки, входной, промежуточный и выходной контроль качества продукции, а также для контроля производства, где требуются сравнимые и воспроизводимые результаты рассева. |
 |
| Масс-спектрометр газовый QMG-511 (Balzers, Лихтенштейн) Предназначен для определения примесей в газовых смесях в пределах 10-4-10 % об. Разрешающая способность квадрупольного анализатора 2М; высокий вакуум до 10-8мм.рт.ст достигается с помощью турбомолекулярного насоса; прогреваемая система напуска; допускаем анализ агрессивных газообразных продуктов. |
|
| Микроденситометр автоматический MDM-6 (Oxford Instruments, Англия) Количественная обработка масс-спектра, программное обеспечение, возможные шаги сканирования 2,5 мкм и 5 мкм |
|
| Дифракционный спектрограф ДФС-8 с дуговым источником (ЛОМО, СССР) Предназначен для определения примесей в металлах и их соединениях. Пределы определения 10-5-0,1 % масс. Дифр. решетка 600 штр/мм; дисперсия 0,6 нм/мм; мощность генератора 2кВт; фотографическая регистрация |
|
| Плазменный спектрометр JY 38 (Jobin Yvon, Франция) Предназначен для анализа элементного состава веществ и материалов в виде растворов. Пределы определения 0,001-50 % масс.; анализ последовательный; ИСП-плазма; мощность 2,5кВт, частота 27,12 МГц; дифр. решетка 180 штр/мм |
|
| Атомно-силовой и туннельный микроскоп (ИТЭФ, Россия) Измерение и картирование морфологии поверхности с разрешением по глубине 0.1 нм и по поверхности 0.5 нм |
|
| Оптический Фурье - спектрометр (Brucker, Германия) Измерение оптических параметров полупроводниковых материалов. Спектральная область 2-1000 мкм, разрешение 0.1 см-1, рабочая температура 5-350 К. |
|
| Рентгеновский микроанализатор состава Камебакс-Микробим (Cameca, Франция) Измерение состава в точке, локальность по поверхности 1 мкм и, относительная погрешность 2%; картирование состава образца |
|
| Установка измерения сопротивления растекания ASR-100C (SSM, США) Предназначена для определения электрических неоднородностей с разрешением 8-9 мкм. Диапазон измерения сопротивлений 10-4 -103 Ом.см |
|
| Сканирующий электронный микроскоп SEM-515 (Phillips, Голландия) Исследование особенностей структуры широкого спектра материалов, нанокомпозитов и т.д. Увеличение до 40000 раз, ускоряющее напряжение 40 кВ, возможность приставки для проведения исследований в режиме наведенного тока |
|
| Гамма-спектрометрическая система на базе анализаторов IN-96 и полупроводниковых детекторов большого объема (Intertechnique, Франция) Прибор предназначен для выполнения γ-измерений при исследовании радиоактивности образцов. Ge-детектор объемом 200см3, энергетическое разрешение 2 КэВ по γ-линии 1330 кЭв. Эффективность регистрации 45,5 %. Многоканальный анализатор имеет 8000 каналов и полное программное обеспечение. |
|
| Спектрофотометр SP 800B (Pye Unicam, Англия) Предназначен для определения хлора, фосфора и серы в растворах. Спектральный диапазон 190-900 нм, абсорбция 0,03-3. Диапазон определяемых содержаний 10-3-0,1 % масс. |